本機は、高集積高速化されるデバイスにCMP技術を用い、より高精度な平坦化技術・仕上げ要求に対応する為に開発されたR&D(研究・開発用)用CMP装置です。
※ 下記仕様はスタンダードモデルのものです。
ポリッシングテーブル関係 | |
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ラッププレートの大きさ | 外径φ400mm |
ラッププレートの回転数 | 0〜100rpm 無段階変速 |
ラッププレートの冷却方式 | 恒温水循環方式 |
ポリッシュプレート材質 | アルミナセラミックス |
ポリッシュプレート受け材質 | SUS420J2 |
プレート交換方式 | ワンタッチ交換方式 |
プロセスステップ数 | 4段階 |
ポリッシュヘッド関係 | |
ポリッシュヘッド軸数 | 1軸 |
ポリッシュヘッド回転数 | 20〜100rpm |
ポリッシュヘッド加圧 | エアシリンダ方式 |
ポリッシュヘッド上下ストローク | 100mm |
ポリッシュプレート材質 | アルミナセラミックス |
プレート交換方式 | ワンタッチ交換方式 |
オシレーション関係 | |
オシレーション揺動ストローク | 0〜40mm |
オシレーション速度 | 無段階速度 |
ウエハ最大径 | φ6インチ |
エアーシリンダー機構 | |
エアーシリンダーストローク | 60mm |
加圧重量範囲 | 20〜150kg |
供給エアー | 5.0MPa |
装置重量寸法 | |
本体重量 | 約1,000kg |
本体寸法 | 幅900mm×奥行1,100mm×高さ1,800mm |